Алфавитный список терминов раздела 4 на английском языке
2
2 D phased array 4.5.1.36
3
3 D -presentation 4.10.7
6
6 dB drop technique 4.12.2.38
6 dB, 10 dB and 20 dB drop techniques 4.12.2.39
A
Absolute sensitivity of flaw detector 4.12.2.9
Absorption 4.3.3.5
Absorption coefficient 4.3.3.8
Acceptance level 4.12.2.35
Acceptance level of sensitivity 4.12.2.15
Acoustic block 4.9.2.2
Acoustic beam 4.4.6
Acoustic contact 4.6.1
Acoustic emission technique 4.7.49
Acoustic field 4.4.1
Acoustic flaw detector 4.9.1.2
Acoustic impedance 4.3.3.14
Acoustic lens 4.5.2.10
Acoustic load 4.5.3.21
Acoustic method 4.7.1
Acoustic microscopy 4.7.29
Acoustic shadow 4.3.4.29
Acoustic structure analyzer 4.9.1.7
Acoustic test equipment 4.9.1.1
Acoustic thickness gauge 4.9.1.4
Acoustic-topographic method 4.7.45
Acoustic wave 4.3.1.1
Acoustical holography 4.7.38
Acoustical impedance matching 4.6.15
Acoustic-ultrasonic method 4.7.21
Active acoustic method 4.7.3
Active resistance 4.2.26
ADC 4.9.2.30
Additional plane 4.3.2.9
Adhesive strength 4.1.29
Air coupled technique 4.6.10
Air coupled transducer 4.5.1.28
Amplification 4.9.3.1
Amplification factor 4.9.3.2
Amplifier 4.9.2.5
Amplifier of rectified pulses 4.9.2.8
Amplifier sensitivity 4.9.3.19
Amplitude 4.2.11
Amplitude spectrum 4.8.18
Amplitude discriminator 4.9.2.17
Analog processing 4.8.54
Analog-to-digit converter 4.9.2.30
Angle of incidence 4.3.4.3
Angle of probe 4.5.3.4
Angle of reflection 4.3.4.10
Angle of refraction 4.3.4.16
Angle probe 4.5.1.9
Angle reflector 4.11.10
Angular frequency 4.2.13
Angular incidence 4.3.4.5
Antinode 4.3.3.11
Antiresonance frequency 4.2.35
Antisymmetrical Lamb wave 4.3.2.17
Aperture 4.5.3.35
Artifitial discontinuity 4.11.4
Artifitial reflector 4.11.5
A -scan 4.10.1
A -scan presentation 4.10.1
Attenuation coefficient 4.2.38, 4.3.3.7
Audio frequency 4.2.14
Audio-frequency wave 4.3.1.3
Automatic scanning 4.12.1.13
В
Back surface 4.12.1.2
Backing mass 4.5.2.27
Back-wall echo 4.8.27
Band filter 4.9.2.35
Band-pass filter 4.9.2.35
Bandwidth 4.8.44
Bare crystal 4.5.2.4
Bare transducer 4.5.2.4
Barium titanate 4.5.2.15
Barker code 4.8.52
Baseline 4.9.3.12
Beam 4.3.1.19
Beam axis 4.4.9
Beam displacement due to reflection 4.3.4.28
Beam divergence 4.4.13
Beam edge 4.4.11
Beam index 4.12.1.3
Beam profile 4.4.12
Beam resolution 4.12.2.20
Beam spread 4.4.13
Bell pulse 4.8.14
Bending wave 4.3.2.19
Biconcave lens 4.5.2.12
Bimorph transducer 4.5.1.38
Bottom echo 4.8.27
Bottom surface 4.12.1.2
Boundary 4.3.4.1
Broad banded device 4.8.49
Broad banded signal 4.8.48
B -scan 4.10.2
B -scan presentation 4.10.2
Bubblier device 4.5.1.23
Buffer 4.5.2.7
Buffer rod 4.5.2.24
С
C- scan 4.10.3
C- scan presentation 4.10.3
C able 4.9.2.38
C alibration block 4.11.18
C athode ray tube 4.9.2.19
CC D-camera 4.9.2.22
C entral ray 4.4.9
C haracteristic acoustic impedance 4.3.3.13
C haracteristic size of artificial discontinuity 4.12.2.5
C harge coupled device camera 4.9.2.22
C hord type probes 4.5.1.25
C oherent method 4.7.22
C oherent processing 4.8.56
C oherent waves 4.3.2.30
C ohesive strength 4.1.30
C ombined method 4.7.18
C ombined probe of MIA flaw detector 4.5.1.12
C ompliance 4.2.24
C ompressional wave 4.3.2.4
C ompressional wave probe 4.5.1.15
C onnector 4.9.2.37
C onstrained oscillations 4.2.17
C ontact compliance 4.6.11
C ontact flexibility 4.6.11
C ontact probe 4.5.1.19
C ontact technique 4.6.3
C ontact testing technique 4.12.1.5
C ontact tip 4.5.2.25
C ontrols 4.9.2.39
C onventional height of defect 4.12.2.32
C onventional length of defect 4.12.2.30
C onventional sensitivity 4.12.2.13
C onventional size of defect 4.12.2.29
C onventional width of defect 4.12.2.31
C orner effect 4.3.4.27
C orner reflector 4.11.10
C ountered probe 4.5.1.24
C ouplant 4.6.2
C ouplant path 4.12.1.20
C oupling coefficient 4.5.3.25
C oupling film 4.6.2
C oupling losses 4.6.14
C oupling medium 4.6.2
C reeping wave 4.3.2.21
C rest 4.3.3.11
C ritical angle 4.3.4.23
C ross-talk 4.8.37
C RT 4.9.2.19
C rystal 4.5.1.3 , 4.5.2.2
C urie point 4.5.3.27
C ut-off frequency 4.8.42
C ylindrical angle reflector 4.11.14
C ylindrical wave 4.3.2.3
D
DAC 4.9.2.31
DAC characteristic 4.9.3.17
Damper 4.5.2.7
Damping element 4.5.2.7
dB 4.9.3.9
Dead zone 4.12.2.24
Decibel 4.9.3.9
Defect 4.11.1
Defectogram 4.10.8
Deformation of solid 4.1.8
Delay line 4.5.2.24
Delay path 4.5.3.34
Delayed sweep 4.9.3.13
Delta method 4.7.13
Depth meter 4.9.2.28
Depth of defect 4.12.2.28
Depth of focus 4.4.19
Detector 4.9.2.10
DOS-diagram 4.12.2.34
Diaphragm 4.5.2.6
Differential combined probe of MIA flaw detector 4.5.1.13
Diffraction 4.3.1.15
Diffraction wave 4.3.2.25
Digital acoustic holography 4.7.40
Digital indicator 4.9.2.24
Digital processing 4.8.55
Digit-to-analog converter 4.9.2.31
Direct scan 4.12.1.6
Directivity characteristic 4.5.3.7, 4.5.3.8
Directivity characteristic width 4.5.3.12
Directivity function 4.5.3.7
Discontinuity 4.11.2
Discontinuity detection by echo method 4.12.2.1
Discontinuity detection bythrough transmission
(mirror through transmission) method 4.12.2.2
Dispersion wave 4.3.2.26
Displacement 4.2.7
Display 4.9.2.18
Display level 4.12.2.36
Distance amplitude correction curve (DAC) 4.9.3.16
Distance-gain-size diagram 4.12.2.34
Divergence angle 4.4.14
Doppler effect 4.3.3.17
Double probe technique 4.12.1.17
Double (twin) probe 4.5.1.14
Dry contact 4.6.7
Dry point contact 4.6.8
Dry point contact probe 4.5.1.26
D -scan presentation 4.10.4
Dual probe 4.5.1.14
Dual search unit 4.5.1.14
Duet probe connection 4.12.1.19
Dynamic contact flexibility 4.6.13
Dynamic range 4.9.3.7
Dynamic range of time variable gain 4.9.3.18
E
Echo height 4.8.26
Echo method 4.7.11
Echo receiving point 4.12.1.22
Echo signal 4.8.25
Echo-mirror method 4.7.15
Effective acoustic center 4.4.7
Effective transducer size 4.5.3.33
Elastic anisotropy 4.1.6
Elastic body 4.1.3
Elastic deformation 4.1.11
Elastic force 4.1.18
Elastic impedance 4.2.28
Elastic medium 4.1.4
Elastic oscillations 4.2.6
Elastic wave 4.3.1.1
Elasticity 4.1.2
ELD 4.9.2.21
Electric load 4.5.3.22
Electrical noise 4.8.36
Electro-acoustical transducer 4.5.1.1
Electrodynamic transducer 4.5.1.29
Electro-luminescent indicator 4.9.2.21
Electromagnetic acoustic transducer 4.5.1.29
Electromechanical coupling coefficient 4.5.3.25
Electronic block 4.9.2.3
Electrostatic transducer 4.5.1.30
EMAT 4.5.1.29
Emission pulse 4.8.24
Energy reflection coefficient 4.3.4.12
Energy transmission coefficient 4.3.4.19
Entry surface 4.12.1.1
Equilibrium 4.2.5
Equivalent area of discontinuity 4.12.2.7
Equivalent sensitivity 4.12.2.11
Equivalent size of discontinuity 4.12.2.6
Examination area 4.12.1.24
Examination level of sensitivity 4.12.2.17
Examination volume 4.12.1.23
Exciter of transmitting transducer 4.9.2.12
Expended time-base sweep 4.9.3.13
External force 4.1.16
F
Far field 4.4.3
Fast Fourier transform 4.8.23
FFT 4.8.23
Filter 4.9.2.32
First critical angle 4.3.4.24
First harmonic 4.2.32
Flat bottom hole 4.11.8
Flaw marker 4.9.2.29
Flaw model 4.11.7
Flexibility 4.2.24
Flexing piezoelectric element 4.5.1.38
Flexural wave 4.3.2.19
Focal distance 4.4.18
Focal point 4.4.16
Focal zone 4.4.19
Focus 4.4.16
Focus of dual search unit 4.4.17
Focusing crystal 4.5.2.9
Focusing of acoustic field 4.4.15
Focusing probe 4.5.1.33
Focusing transducer 4.5.2.9
Forced oscillations 4.2.17
Fourier transform (in space domain) 4.8.21
Fourier transform (in time domain) 4.8.20
Fraunhofer zone 4.4.3
Free oscillations 4.2.18
Free vibration method 4.7.35
Free vibrations 4.2.18
Frequency 4.2.12
Frequency limit 4.8.42
Frequency of maximum conversion 4.5.3.20
Frequency response 4.5.3.18
Frequency spectrum 4.8.16
Fresnel-zone 4.4.2
Frictional noise 4.8.39
Front resolution 4.12.2.21
Front surface reflection 4.8.29
F -scan presentation 4.10.6
Fundamental frequency 4.2.32
G
Gain 4.9.3.1, 4.9.3.2
Gain control 4.9.3.3
Gap testing technique 4.6.5
Gate 4.9.2.15
Gate level 4.9.3.21
Gate pulse generator 4.9.2.16
General purpose test equipment 4.9.1.16
Generalized force 4.1.14
«Grass cutting» 4.9.2.11
Group velocity 4.3.3.2
H
Half-amplitude technique 4.12.2.38
Harmonic 4.2.33
Harmonical oscillation 4.2.19
Head wave 4.3.2.21
HF amplifier 4.9.2.7
High frequency filter 4.9.2.34
High-pass filter 4.9.2.34
Holographic presentation 4.7.39
Homogeneous medium 4.1.1
Housing 4.5.2.28
I
I mmersion probe 4.5.1.20
I mmersion technique 4.6.4
I mmersion technique 4.7.17
I mperfection 4.11.1
I ncident wave 4.3.4.2
I ncoherent method 4.7.23
I ndication zone 4.12.2.27
I ndicator 4.9.2.18
I ndirect scan 4.12.1.7
I ndispersion wave 4.3.2.27
I nertial impedance 4.2.27
I nhomogeneous wave 4.3.1.14
I nitial pulse 4.8.30
I ntegral free vibration method 4.7.36
I ntegral natural vibration method 4.7.31
I ntegral resonance method 4.7.32
I nterface 4.3.4.1
I nternal force 4.1.17
I nverse Fourier transform 4.8.22
I sotropic material 4.1.5
I sotropic medium 4.1.5
J
Jet probe 4.5.1.22
Jet technique 4.6.6
К
Key-board 4.9.2.40
L
L amb wave of zero order 4.3.2.18
L amb wave probe 4.5.1.18
L amb wave 4.3.2.14
L ap 4.5.2.26
L ateral wave 4.3.2.22
LC D 4.9.2.20
L ead metaniobate 4.5.2.17
L ead zirconate-titanate 4.5.2.16
L imit of elasticity 4.1.25
L imit of proportionality 4.1.24
L inear element of a body 4.1.7
L inear frequency-modulated signal 4.8.51
L inear oscillating system 4.2.20
L inearphased array 4.5.1.35
L iquid crystal display 4.9.2.20
L iquid crystal indicator 4.9.2.20
L ithium niobate 4.5.2.20
L ithium sulphate 4.5.2.19
L ocal free vibration method 4.7.37
L ocal natural vibration method 4.7.33
L ocal resonance method 4.7.34
L ogarithmic amplifier 4.9.2.9
L ogarithmic decrement 4.2.39
L ongitudinal wave 4.3.2.4
L ongitudinal wave in a rod 4.3.2.20
L ongitudinal wave probe 4.5.1.15
L ove wave 4.3.2.23
L ow frequency filter 4.9.2.33
L ow-pass filter 4.9.2.33
M
M agnetostrictive transducer 4.5.1.31
M ain lobe of directivity characteristic 4.5.3.9
M anual scanning 4.12.1.12
M ass 4.2.23
M atching layer 4.5.2.14
M atching transducer to the electric load 4.5.3.23
M atching transducer to the media 4.5.2.13
M aterial Q-factor 4.3.3.12
M aximum operation temperature 4.5.3.28
M aximum sensitivity of receiver 4.9.3.6
M easuring attenuator 4.9.2.27
M echanical force 4.1.15
M echanical impedance 4.2.22
M echanical impedance analysis flaw detector 4.9.1.11
M echanical impedance analysis method 4.7.27
M etal plated crystal 4.5.2.3
M etal plated transducer 4.5.2.3
MI A flaw detector 4.9.1.11
MI A method 4.7.27
M irror through transmission method 4.7.16
M ode conversion 4.3.4.20
M onitor 4.9.2.26
M onitor hysteresis 4.9.3.22
M onitor level 4.9.3.21
M onitor speed 4.9.3.23
M ultiple echo 4.3.4.8
M ultiple echos 4.8.31
M ultiple reflections 4.3.4.8
M ultiple-echo technique 4.7.14
N
Narrow banded device 4.8.47
Narrow banded signal 4.8.46
Natural frequency 4.2.31
Natural vibration method 4.7.30
Near field 4.4.2
Needle instrument 4.9.2.23
Neper 4.9.3.10
Node 4.3.3.10
Noise 4.8.33, 4.8.34
Noise diagnostics method 4.7.51
Noise suppression 4.9.2.11
Nominal angle of probe 4.5.3.5
Nominal frequency 4.5.3.6
Noncontact probe 4.5.1.27
Noncontacting technique 4.6.9
Non-linear acoustic method 4.7.48
Non-linear oscillating system 4.2.21
Normal incidence 4.3.4.4
Normal probe 4.5.1.8
Normal stress 4.1.20
Normal wave 4.3.2.13
Notch 4.11.11, 4.11.12
О
Operation frequency 4.5.3.13
Optical laser transducer 4.5.1.39
Optimal filter 4.8.53
Optimum frequency 4.12.2.26
Orbital scanning 4.12.1.8
Oscillating system 4.2.4
Oscillating value 4.2.2
Oscillation 4.2.1
Oscillation cycle 4.2.9
Oscillation frequency 4.2.12
Overtone 4.2.36
P
Parasitic echo 4.8.32
Particle velocity 4.2.8
Particle velocity 4.3.1.5
Passive acoustic method 4.7.4
Path difference 4.3.3.16
Path length 4.3.3.15
Period 4.2.10
Periodic oscillation 4.2.3
Phase 4.2.16
Phase spectrum 4.8.19
Phase velocity 4.3.3.1
Phased array 4.5.1.34
Phase-manipulated signal 4.8.50
Photoacoustic imagery 4.7.47
Photoacoustic microscopy 4.7.47
Piezoelectric constants 4.5.3.24
Piezoelectric element 4.5.2.2
Piezoelectric modulus 4.5.3.26
Piezoelectric probe 4.5.1.5
Piezoelectricity 4.5.2.1
Pitch and catch 4.12.1.17
Plane of incidence 4.3.2.8
Plane wave 4.3.2.1
Plane-concave lens 4.5.2.11
Plastic deformation 4.1.12
Plate wave 4.3.2.14
Polarization 4.3.2.10
Polling voltage 4.5.3.29
Polyvinildenftoride 4.5.2.21
Pre-amplifier 4.9.2.6
Pressure 4.1.22
Probe 4.5.1.2
Probe axis 4.4.8
Probe case 4.5.2.28
Probe casing 4.5.2.28
Probe conversion coefficient 4.5.3.16
Probe damping factor 4.5.3.31
Probe double conversion coefficient 4.5.3.17
Probe index 4.5.3.2
Probe operating surface 4.5.3.1
Probe orientation 4.12.1.21
Probe transfer function 4.5.3.15
Probes bandwidth 4.5.3.19
Protected crystal 4.5.2.5
Protected transducer 4.5.2.5
P-scan presentation 4.10.5
Pulse 4.8.2
Pulse amplitude 4.8.5
Pulse center frequency 4.8.45
Pulse duration 4.8.6
Pulse echo flaw detector 4.9.1.9
Pulse envelope 4.8.8
Pulse generator 4.9.2.13
Pulse length 4.8.6
Pulse repetition frequency 4.8.10
Pulse repetition rate 4.8.10
Pulse shape 4.8.7
Pulse spatial length 4.8.9
Pulse spectrum 4.8.17
PVDF 4.5.2.21
PZT 4.5.2.16
Q
Q-factor 4.2.37
Quality factor 4.2.37
Quartz 4.5.2.18
Quasibend of acoustic axis 4.4.10
R
Radio-frequency amplifier 4.9.2.7
Radio-frequency pulse 4.8.4
Ray 4.3.1.19
Rayleigh wave 4.3.2.7
Rayleigh wave probe 4.5.1.17
Real sensitivity 4.12.2.10
Receiver 4.9.2.4
Receiver frequency characteristic 4.9.3.8
Receiver sensitivity 4.9.3.5
Receiving probe 4.5.1.7
Recording level 4.12.2.16
Rectangular pulse 4.8.13
Rectified signal 4.8.11
Reference block 4.11.19
Reference block method 4.12.2.37
Reference echo 4.12.2.18
Reference level 4.12.2.18
Reference reflector 4.11.6
Reflected wave 4.3.4.7
Reflection 4.3.4.6
Reflection coefficient 4.3.4.11
Reflection method 4.7.11
Reflectivity of discontinuity 4.12.2.3
Reflector 4.11.3
Reflectoscope 4.9.1.9
Refracted wave 4.3.4.15
Refraction 4.3.4.14, 4.3.4.22
Refractive index 4.3.4.17
Reject 4.9.2.11
Reporting level 4.12.2.16
Resolution 4.12.2.19
Resonance frequency 4.2.34
Resonance thickness gauge 4.9.1.15
Response characteristic 4.8.41
Reverberation 4.3.4.9
Reverberation method 4.7.14
RF amplifier 4.9.2.7
R-F signal 4.8.12
Ring phased array 4.5.1.37
Run round wave 4.3.2.28
Running wave 4.3.1.10
Rupture limit 4.1.28
S
SAFT 4.7.42
SAFT FFT 4.7.43
Scale expansion 4.9.3.13
Scanning 4.12.1.4
Scanning device 4.9.2.1
Scanning direction 4.12.1.11
Scanning index 4.12.1.14
Scanning speed 4.12.1.15
Scanning surface 4.12.1.1
Scattering 4.3.3.6
Scattering coefficient 4.3.3.9
Scattering indicatrix of flaw 4.12.2.33
Screen marker 4.10.9
Search unit 4.5.1.2
Searchlight zone 4.4.5
Second critical angle 4.3.4.25
Segmental reflector 4.11.16
Send/receive probe 4.5.1.14
Sensitivity 4.12.2.8
Sensitivity level 4.12.2.14
SH wave 4.3.2.12
Shear horizontal wave 4.3.2.12
Shear strain 4.1.10
Shear stress 4.1.21
Shear vertical wave 4.3.2.11
Shear wave 4.3.2.5
Shear wave probe 4.5.1.16
Shoe 4.5.2.8
Side drilled hole 4.11.9
Side lobes level 4.5.3.11
Side lobes of directivity characteristic 4.5.3.10
Signal 4.8.1
Signal amplitude 4.8.26
Signal processing block 4.9.2.42
Signal-to-noise ratio 4.8.40
Single crystal probe 4.5.1.11
Single probe technique 4.12.1.16
Single traverse scan 4.12.1.6
Slide off wave 4.3.2.29
Snell’s low 4.3.4.21
Software 4.9.2.41
Sonic flaw detector 4.9.1.2
Sonic method 4.7.1
Sonic wave 4.3.1.3
Sound field 4.4.1
Sound beam 4.4.6
Sound pressure 4.3.1.4
Sound velocity 4.3.1.6
Special purpose test equipment 4.9.1.17
Spectrum analyzer 4.9.2.36
Spherical reflector 4.11.13
Spherical wave 4.3.2.2
Spiral scanning 4.12.1.10
Spurious echo 4.8.32
Square pulse 4.8.13
Squirter probe 4.5.1.22
Squirter technique 4.6.6
Stack 4.5.3.30
Standoff 4.5.2.24
Standard acoustic load of probe 4.11.17
Standard signal level 4.9.3.4
Standing wave 4.3.1.11
Static contact flexibility 4.6.12
Stationary wave 4.3.1.11
Stiffness 4.2.25
Stoneley wave 4.3.2.24
Straight beam probe 4.5.1.8
Stress 4.1.19
Structural noise 4.8.35
Surface wave 4.3.2.7
Surface wave probe 4.5.1.17
SV wave 4.3.2.11
Sweep 4.9.3.11
Sweep generator 4.9.2.14
Swept gain 4.9.3.16
Swivel scanning 4.12.1.9
Symmetrical Lamb wave 4.3.2.16
Sync generator 4.9.2.25
Synthetic aperture focusing technique 4.7.42
Synthetic aperture technique 4.7.41
System with distributed parameters 4.2.30
System with lumped parameters 4.2.29
Т
Tandem probe connection 4.12.1.18
Tandem technique 4.7.24
Tandem-duet technique 4.7.26
Tandem-T technique 4.7.25
Tangential stress 4.1.21
Tension-compression strain 4.1.9
Tensor of deformation 4.1.13
Tensor of stress 4.1.23
Test frequency 4.12.2.25
Test surface 4.12.1.1
Testing productivity 4.12.2.22
Testing sensitivity 4.12.2.8
Thermal noise 4.8.38
Third critical angle 4.3.4.26
Threshold of acoustic sensitivity 4.12.2.9
Through signal 4.8.28
Through transmission flaw detector 4.9.1.10
Through transmission method (technique) 4.7.5, 4.7.6, 4.7.7, 4.7.8, 4.7.9
Time base adjustment 4.9.3.15
Time base range 4.9.3.14
Time corrected gain 4.9.3.16
Time gate 4.9.2.15
Time of flight diffraction method 4.7.12
Time variable gain 4.9.3.16
Time variable gain characteristic 4.9.3.17
TOFD method 4.7.12
Tomographic presentation 4.10.10
Total reflection 4.3.4.13
Transceiver 4.5.1.11
Transducer 4.5.1.3
Transducer array probe 4.5.1.34
Transducer backing 4.5.2.7
Transducer mosaic 4.5.1.32
Transducer size 4.5.3.32
Transducers bandwidth 4.5.3.19
Transitive zone 4.4.4
Transmission coefficient 4.3.4.18
Transmission factor 4.8.43
Transmission point 4.8.29
Transmission pulse indication 4.8.30
Transmission technique 4.7.5
Transmitting probe 4.5.1.6
Transparency of discontinuity 4.12.2.4
Transverse wave 4.3.2.5
Transverse wave probe 4.5.1.16
Triangular pulse 4.8.15
Two parametric signal processing 4.8.57
U
UCI hardness meter 4.9.1.6
UCI method 4.7.28
Ultimate strength 4.1.27
Ultimate strength 4.1.28
Ultrasonic beam 4.4.6
Ultrasonic contact impedance method (technique 4.7.28
Ultrasonic flaw detector 4.9.1.3
Ultrasonic frequency 4.2.15
Ultrasonic hardness meter 4.9.1.6
Ultrasonic method 4.7.2
Ultrasonic structure analyzer 4.9.1.8
Ultrasonic thickness gauge 4.9.1.5
Ultrasonic tomography 4.7.44
Ultrasonic wave 4.3.1.2
Ultrasound lock-in-thermography 4.7.46
Untested zone 4.12.2.23
Usable sensitivity 4.12.2.12
V
V ariable angle probe 4.5.1.10
V elocimetric flaw detector 4.9.1.12
V elocimetric method 4.7.10
V elocity dispersion 4.3.3.3
V elocity of propagation 4.3.1.6
V ibration diagnostics method 4.7.50
V ibrations 4.2.6
V ibrator 4.5.1.4
V ideo pulse 4.8.3
V oltage (current) used for probe excitation 4.9.3.20
V olume scan presentation 4.10.7
V olumetric wave 4.3.2.6
W
Wave amplitude 4.3.1.7
Wave attenuation 4.3.3.4
Wave conversion 4.3.4.20
Waveguide 4.5.2.29
Wave intensity 4.3.1.8
Wave interference 4.3.1.16
Wave mode 4.3.2.15
Wave number 4.3.1.12
Wave phase 4.3.1.17
Wave reflection 4.3.4.6
Wave train 4.3.1.20
Wave transformation 4.3.4.20
Wave vector 4.3.1.13
Wavefront 4.3.1.18
Wavelength 4.3.1.9
Wear face 4.5.2.6
Wear plate 4.5.2.6
Wedge 4.5.2.8
Wedge angle 4.5.3.3
Wheel probe 4.5.1.21
X
X - cut crystal 4.5.2.22
X - value 4.5.3.14
Y
Y -cut crystal 4.5.2.23
Yield strength 4.1.26
Z
Zero point 4.8.29
Источники терминов и определений раздела 4
1 . ГОСТ 23829-79. Контроль неразрушающий акустический. Термины и определения.
2 . ГОСТ 23829-85 . Контроль неразрушающий акустический. Термины и определения.
3 . ГОСТ 14782-86 . Контроль неразрушающий. Соединения сварные. Методы ультразвуковые.
4 . ГОСТ 18576-85 . Контроль неразрушающий. Рельсы железнодорожные. Методы ультразвуковые.
5 . ГОСТ 26266-90 . Контроль неразрушающий. Преобразователи ультразвуковые. Общие технические условия.
6 . ГОСТ 24507-80 . Контроль неразрушающий. Поковки из черных и цветных металлов. Методы ультразвуковой дефектоскопии.
7 . ГОСТ 28702-90 . Контроль неразрушающий. Толщиномеры ультразвуковые. Общие технические требования.
8 . ГОСТ 23049-84. Контроль неразрушающий. Дефектоскопы ультразвуковые. Основные параметры и общие технические требования.
9 . ГОСТ 4.177-85 . Система показателей качества продукции. Приборы неразрушающего контроля качества материалов и изделий. Номенклатура показателей.
10 . BS EN 1330-4:2000. Non-destructive testing - Terminology - Part 4: Terms used in ultrasonic testing.
11 . Standard Terminology for Ultrasonic testing. Adopted from ASTM E 1316-98.
12 . Glossary of terms and definitions for ultrasonic testing procedures. MIL-STD-371, 1992.
13 . Nondestructive Testing Handbook. Second Edition. V.7. Ultrasonic Testing. ASNT . 1991. 893 c .
14 . Ультразвук: Маленькая энциклопедия / Гл. ред. И.П. Голямина. М.: Советская Энциклопедия, 1979. 400 с.
15 . Яворский Б.М., Детлаф А.А. Справочник по физике. М.: Наука, 1980. 512 с.
16 . Конструкционные материалы / Гл. ред. А.Т. Туманов. М.: Советская Энциклопедия, 1965. Т. 3. 528 с.
17 . Ермолов И.Н., Вопилкин А.Х., Бадалян В.Г. Расчеты в ультразвуковой дефектоскопии: Краткий справочник. М.: ООО «НПЦ ЭХО+», 2000. 108 с.
18 . Ермолов И.Н., Ермолов М.И. Ультразвуковой контроль: Учебн. для специалистов первого и второго уровней квалификации. М., 2001. 170 с.
19 . Неразрушающий контроль: В 5 кн. Кн. 2. Акустические методы контроля: Практическое пособие / И.Н. Ермолов, Н.П. Алешин, А.И. Потапов; Под ред. В.В. Сухорукова. М.: Высш. шк., 1991. 283 с.
20 . Физический энциклопедический словарь. М.: Советская Энциклопедия, 1960.
21 . Методы акустического контроля металлов / Н.П. Алешин, В.Е. Белый, А.Х. Вопилкин и др.; Под ред. Н.П. Алешина. М.: Машиностроение, 1989. 456 с.
22 . Лепендин Л.Ф. Акустика: Учебное пособие для вузов. М.: Выс. шк., 1978. 448 с.
23 . Микер Т. и Мейцлер А. Волноводное распространение в протяженных цилиндрах и пластинках // Физическая акустика / Под ред. У. Мэзона. Т. I . Ч. А. Методы и приборы ультразвуковых исследований. М.: Мир, 1966. 592 с.
24 . Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теория упругости. М.: Наука, 1965. 204 с.
25 . Феодосьев В.И. Сопротивление материалов. М.: Наука, 1970. 544 с.
26 . ГОСТ 22727-88 . Прокат листовой. Методы ультразвукового контроля.
27 . ГОСТ 27655-88 . Акустическая эмиссия. Термины, определения и обозначения. М.: Изд-во стандартов, 1988.
5 . ВИХРЕТОКОВЫЙ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ
5.1 . Вихретоковый неразрушающий контроль ( Eddy current nondestructive testing ) - HK , основанный на анализе взаимодействия внешнего электромагнитного поля с электромагнитным полем вихревых токов, наводимых в объекте контроля этим полем.
5.2 . Вихретоковый преобразователь ( Eddy current probe ) - устройство, состоящее из одной или нескольких индуктивных обмоток, предназначенных для возбуждения в объекте контроля вихревых токов и преобразования зависящего от параметров объекта электромагнитного поля в сигнал преобразователя.
5.3 . Начальная ЭДС вихретокового преобразователя ( Initial electromotive force of eddy current probe ) - ЭДС на выводах разомкнутой измерительной обмотки вихретокового преобразователя при отсутствии объекта контроля.
5.4 . Вносимая ЭДС вихретокового преобразователя ( Added electromotive force of eddy current probe ) - приращение ЭДС на выводах разомкнутой измерительной обмотки вихревого преобразователя, обусловленное внесением в его электромагнитное поле объекта контроля.
5.5 . Относительная вносимая ЭДС вихретокового преобразователя ( Added relative electromotive force of eddy current probe ) - отношение вносимой ЭДС вихретокового преобразователя к его начальной ЭДС.
5.6 . Вносимое напряжение вихретокового преобразователя ( Added voltage of eddy current probe ) - приращение напряжения на выводах измерительной обмотки вихретокового преобразователя, обусловленное внесением в его электромагнитное поле объекта контроля.
5.7 . Вносимое сопротивление вихретокового преобразователя ( Added resistance of eddy current probe ) - приращение сопротивления обмотки вихретокового преобразователя, обусловленное внесением в его электромагнитное поле объекта контроля.
5.8 . Комплексная плоскость вихретокового преобразователя ( Complex plane of eddy current probe ) - плоскость с двумя ортогональными координатными осями, по одной из которых откладываются действительные составляющие ЭДС, напряжения или комплексного сопротивления преобразователя, а подругой - мнимые.
5.9 . Годограф вихретокового преобразователя ( Hodograph diagram of eddy current probe ) - геометрическое место концов вектора ЭДС или напряжения на комплексной плоскости преобразователя, полученное в результате изменения частоты, удельной электрической проводимости, относительной магнитной проницаемости, размеров объекта контроля, размеров преобразователя, других влияющих факторов или образованных из них обобщенных переменных величин.
5.10 . Диаграмма комплексного сопротивления вихретокового преобразователя ( Impedance diagram of eddy current probe ) - комплексная плоскость, точки которой изображают числовые значения комплексного сопротивления вихретокового преобразователя, полученные в результате измерения частоты, удельной электрической проводимости, относительной магнитной проницаемости, размеров объекта контроля, размеров преобразователя или образованных из них обобщенных переменных (параметров).
5.1 1 . Сигнал вихретокового преобразователя ( Eddy current probe signal ) - сигнал (ЭДС, напряжение или сопротивление преобразователя), несущий информацию о параметрах объекта контроля и обусловленный взаимодействием электромагнитного поля преобразователя с объектом контроля.
5.12 . Глубина проникновения электромагнитного поля вихретокового преобразователя ( Electromagnetic field penetration depth of eddy current signal ) - расстояние от поверхности объекта контроля до слоя, в котором плотность вихревых токов в е = 2,73 раза меньше, чем на поверхности.
5.13 . Обобщенный параметр вихретокового контроля ( Generalised parameter of eddy current testing ) - безразмерная величина, характеризующая свойства вихретокового преобразователя, объекта контроля или условия контроля, например параметр
,
где R - радиус эквивалентного витка обмотки преобразователя или радиус цилиндрического объекта контроля при использовании однородного поля;
ω - круговая частота тока возбуждения;
µ0 - магнитная постоянная, µ0=4π∙10-6;
µ - магнитная проницаемость среды;
Q - удельная электрическая проводимость среды.
5.14 . Локальность вихретокового контроля ( Locality of eddy current testing ) - площадь поверхности объекта контроля, в пределах которой контролируемый параметр интегрируется преобразователем и его среднее значение принимается за значение параметра в зоне измерения.
5.15 . Ток возбуждения вихретокового преобразователя ( Exciting current of eddy current probe ) - ток обмотки возбуждения вихретокового преобразователя.
5.16 . Частота тока возбуждения вихретокового преобразователя ( Exciting current frequency of eddy current probe ) - частота тока обмотки возбуждения.
5.17 . Отношение сигнал/шум вихретокового преобразователя ( Signal - to - noise ratio of eddy current probe ) - отношение пикового значения сигнала преобразователя, вызванного изменением контролируемого параметра к среднему квадратическому значению амплитуды шумов, обусловленных влиянием мешающих параметров объекта контроля.
5.18 . Контролируемый параметр при вихретоковом контроле ( Test parameter of eddy current testing ) - параметр объекта, подлежащий контролю путем преобразования в сигнал вихретокового преобразователя.
5.19 . Мешающий параметр вихретокового контроля ( Stray parameter of eddy current testing ) - параметр объекта, не подлежащий контролю, изменение которого оказывает влияние на результаты контроля.
5.20 . Чувствительность к контролируемому параметру при вихретоковом контроле ( Sensitivity to test parameter at eddy current testing ) - отношение приращения сигнала вихретокового преобразователя к вызвавшему его малому приращению контролируемого параметра.
5.21 . Отстройка при вихретоковом контроле ( Suppression at eddy current testing ) - подавление влияния на результаты контроля изменения мешающего параметра.
5.22 . Направление отстройки при вихретоковом контроле ( Suppression direction at eddy current testing ) - направление на комплексной плоскости вихретокового преобразователя, нормальное к годографу напряжения, вызванному изменением мешающего параметра.
5.23 . Амплитудный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Amplitude method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении амплитуды сигнала преобразователей.
5.24 . Фазовый метод вихретокового неразрушающего контроля ( Phase method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового HK , основанный на измерении фазы сигнала преобразователя.
5.25 . Амплитудно-фазовый метод вихретокового неразрушающего контроля ( Amplitude - phase method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении проекции вектора напряжения преобразователя на направлении отстройки.
5.26 . Частотный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Frequency method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении частоты сигнала параметрического вихретокового преобразователя, включенного в колебательный контур автогенератора.
5.27 . Многочастотный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Multi frequency method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на анализе и (или) синтезе сигналов вихретокового преобразователя, обусловленных взаимодействием электромагнитного поля различной частоты с объектом контроля.
5.28 . Переменно-частотный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Variable - frequency method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на анализе и (или) синтезе амплитуды и частоты сигнала вихретокового преобразователя при постоянном за счет изменения частоты заданном значении обобщенного параметра.
5.29 . Импульсный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Pulse method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении амплитуды и (или) длительности сигнала вихретокового преобразователя импульсной формы, обусловленного взаимодействием нестационарного электромагнитного поля с объектом контроля.
5.30 . Абсолютный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Absolute method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении сигнала вихретокового преобразователя, на который воздействует абсолютное значение контролируемого параметра.
5.31 . Модуляционный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Modulation method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на анализе сигнала вихретокового преобразователя, модулируемого в результате изменения в пространстве параметров объекта, при относительном перемещении преобразователя и объекта контроля.
5.32 . Дифференциальный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Differential method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении сигнала вихретокового преобразователя, обусловленного приращением контролируемого параметра.
5.33 . Спектральный метод вихретокового неразрушающего контроля ( Spectral method of eddy current nondestructive testing ) - метод вихретокового НК, основанный на измерении спектрального состава сигнала вихретокового преобразователя.
5.34 . Обмотка возбуждения вихретокового преобразователя ( Drive winding of eddy ) - обмотка преобразователя, предназначенная для возбуждения в объекте контроля вихревых токов.
5.35 . Измерительная обмотка вихретокового преобразователя ( Measuring winding of eddy current probe ) - обмотка преобразователя, предназначенная для преобразования электромагнитного поля вихревых токов в сигнал преобразователя.
5.36 . Компенсационная обмотка вихретокового преобразователя ( Compensating winding of eddy current probe ) - обмотка преобразователя, предназначенная для создания дополнительного напряжения, суммируемого с напряжением измерительной обмотки.
5.37 . Зазор вихретокового преобразователя ( Eddy current probe lift - off ) - расстояние между торцевой плоскостью вихретокового преобразователя и поверхностью объекта контроля.
5.38 . Конструктивный зазор вихретокового преобразователя ( Design lift - off of eddy current probe ) - расстояние между торцевой плоскостью вихретокового преобразователя и плоскостью эквивалентного витка обмотки возбуждения.
5.39 . Эквивалентный виток обмотки вихретокового преобразователя ( Equivalent turn of eddy current probe winding ) - математическая модель обмотки вихретокового преобразователя в виде одного витка с пренебрежимо малым поперечным сечением, контур которого потеряет контур витков обмотки, а диаметр выбирается из условия эквивалентности контуров обмотки и модели по формуле
,
где D - средний диаметр;
;
здесь D н - наружный диаметр обмотки;
D вн - внутренний диаметр обмотки.
5.40 . Компенсатор сигнала вихретокового преобразователя ( Signal compensator of eddy current probe ) - устройство, предназначенное для создания регулируемого по амплитуде и фазе напряжения для его суммирования с напряжением преобразователя.
5.41 . Блок вихретокового преобразователя ( Protection unit of eddy current probe ) - устройство, предназначенное для защиты преобразователя от механических воздействий, воздействия внешней среды, фиксации и регулирования положения преобразователя относительно объекта контроля, сканирования преобразователем контролируемой поверхности, в случае необходимости предварительной обработки сигнала, а также решения других задач, связанных с обеспечением контроля в заданных условиях.
5.42 . Накладной вихретоковый преобразователь ( Surface eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, расположенный вблизи одной из поверхностей объекта контроля.
5.43 . Экранный вихретоковый преобразователь ( Screening eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, возбуждающая и измерительная обмотки которого разделены объектом контроля.
5.44 . Проходной вихретоковый преобразователь ( Encircling eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, расположенный при контроле либо с внешней стороны объекта, охватывая его, либо с внутренней, когда объект контроля охватывает преобразователь.
5.45 . Наружный проходной вихретоковый преобразователь ( Encircling external eddy current probe ) - проходной вихретоковый преобразователь, расположенный с внешней стороны объекта контроля.
5.46 . Внутренний проходной вихретоковый преобразователь ( Encircling internal eddy current probe ) - проходной вихретоковый преобразователь, расположенный с внутренней стороны объекта контроля.
5.47 . Коэффициент заполнения вихретокового проходного преобразователя ( Fill factor of encircling eddy current probe ) - отношение площади поперечного сечения объекта контроля к меньшей из площадей поперечного сечения, эквивалентного витка измерительной или возбуждающей обмотки проходного вихретокового преобразователя:
η= S об / S н.о. при S н.о. £ S в.о. ;
η= S об / S в.о. при S в.о. £ S н.о. ,
где S н.о. , S в.о. - площадь поперечного сечения эквивалентного витка измерительной обмотки и обмотки возбуждения соответственно.
5.48 . Комбинированный вихретоковый преобразователь ( Composite eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, содержащий обмотки как накладного, так и проходного типа.
5.49 . Параметрический вихретоковый преобразователь ( Parametric eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, преобразующий контролируемый параметр в активное, реактивное или комплексное сопротивление.
5.50 . Трансформаторный вихретоковый преобразователь - вихретоковый преобразователь, содержащий не менее двух индуктивно связанных обмоток (возбуждающую и измерительную) и преобразующий контролируемый параметр в ЭДС измерительной обмотки.
5.51 . Абсолютный вихретоковый преобразователь ( Absolute eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, сигнал которого определяется абсолютным значением параметра объекта контроля.
5.52 . Дифференциальный вихретоковый преобразователь ( Differential eddy current probe ) - вихретоковый преобразователь, сигнал которого определяется приращением параметра объекта контроля.
5.53 . База дифференциального вихретокового преобразователя ( Base of differential eddy current probe ) - расстояние между плоскостями, в которых расположены эквивалентные витки обмоток параметрического преобразователя или измерительных обмоток трансформаторного преобразователя.
5.54 . Относительная база дифференциального вихретокового преобразователя ( Relative base of differential eddy current probe ) – база дифференциального вихретокового преобразователя, выраженная в долях диаметра измерительной обмотки преобразователя.
5.55 . Одноэлементный вихретоковый преобразователь - устройство, состоящее из одного вихретокового преобразователя, обеспечивающего требуемую чувствительность и локальность контроля.
5.56 . Многоэлементный вихретоковый преобразователь ( Multiple - unit eddy current probe ) - устройство, состоящее из заданного числа однотипных одноэлементных вихретоковых преобразователей, работающих на параллельные информационные каналы и размещенных на заданной площади так, чтобы обеспечить большую зону контроля при сохранении высокой локальности одного преобразователя.
5.57 . Компенсирующее напряжение вихретокового преобразователя ( Compensating voltage of eddy current probe ) - напряжение, суммируемое с напряжением вихретокового преобразователя для его компенсации.
5.58 . Опорное напряжение вихретокового преобразователя ( Reference voltage of eddy current probe ) - синхронное с сигналом вихретокового преобразователя переменное напряжение, подаваемое на один из входов фазочувствительного устройства.
5.59 . Вихретоковый толщиномер ( Eddy current thickness gauge ) - прибор, основанный на методах вихретокового НК и предназначенный для измерения толщины объекта контроля.
5.60 . Вихретоковый структуроскоп ( Eddy current structuroscope ) - прибор, основанный на методах вихретокового НК и предназначенный для контроля физико-механических свойств объектов, связанных со структурой, химическим составом и внутренними напряжениями материалов.
5.61 . Вихретоковый дефектоскоп ( Eddy current flaw detector ) - прибор, основанный на методах вихретокового Н К и предназначенный для выявления дефектов объекта контроля типа нарушенной сплошности.
5.62 . Порог чувствительности вихретокового дефектоскопа ( Sensitivity threshold of eddy current flaw detector ) - минимальные разме ры дефекта заданной формы, при которых отношение сигнал/шум равно двум.
5.63 . Краевой эффект при вихретоковом контроле ( End effect at eddy current testing ) - изменение сигнала вихретокового преобразователя, обусловленное краевыми участками объекта контроля.
5.64 . Эффект зазора при вихретоковом контроле ( Lift - off effect at eddy current testing ) - изменение сигнала вихретокового преобразователя, обусловленное изменением зазора.
5.65 . Скоростной эффект при вихретоковом контроле ( Velocity effect at eddy current testing ) - изменение сигнала вихретокового преобразователя, обусловленное вихревыми токами, возникающими в результате движения объекта контроля в магнитном поле вихретокового преобразователя.
5.66 . Фоновый шум ( Background noise ) - шум, происходящий от геометрических и металлургических изменений в контролируемом изделии (эти явления могут быть измерены).
5.67 . Балансировка ( Balance ) - компенсация сигнала, соответствующего рабочей точке, для получения заранее определенного значения, например нуля.
5.68 . Ширина полосы ( Bandwidth ) - диапазон частот, в котором сигнал передается или усиливается линейно. Он определяется нижней и верхней граничными частотами, которые обычно соответствуют ослаблению в 3 дБ. Ширина полосы может быть определена для любого элемента или для всей системы такой, как фильтр, кабель или усилитель.
5.69 . Компенсирующий сигнал ( Bucking signal ) - сигнал, который подается для сбалансирования в целях установления рабочей точки.
5.70 . Коэффициент взаимодействия ( Coupling factor ) - отношение возбуждающего потока в контролируемом изделии к полному возбуждающему потоку. Это отношение является мерой электромагнитного взаимодействия вихретокового преобразователя и контролируемого изделия.
5.71 . Демодулированный сигнал ( Demodulated signal ) - вихретоковый сигнал после демодуляции.
5.72 . Дифференцированный сигнал ( Differentiated signal ) - выходной сигнал дифференцирующего фильтра.
5.73 . Распределение вихревых токов - векторное поле плотности вихревых токов.
5.74 . Вихревые токи ( Eddy currents ) - электрический ток, индуцированный в проводящем материале переменным магнитным полем.
5.75 . Эффективная глубина проникновения ( Effective depth of penetration ) - глубина материала, за которой электромагнитное явление вихревых токов более нельзя использовать для контроля с помощью данной системы.
5.76 . Эффективная магнитная проницаемость ( Effective permeability ) - комплексная величина, введенная для учета ослабления напряженности магнитного поля в цилиндрических объектах, создаваемого протеканием вихревых токов. Обычно рассчитывают выходное напряжение вторичной обмотки коаксиального вихретокового преобразователя.
5.77 . Электромагнитное взаимодействие ( Electromagnetic coupling ) - электромагнитное взаимодействие между двумя или более цепями. При вихретоковом контроле контролируемое изделие считается цепью.
5.78 . Возбуждение, индукция ( Excitation , induction ) - создание вихревых токов ( in phase demodulation ).
5.79 . Амплитудно-фазовая демодуляция ( In phase demodulation ) - использование синхронной демодуляции для извлечения активной (резистивной) компоненты из сигнала преобразователя.
5.80 . Приборный шум ( Instrument noise ) - шум, создаваемый вихретоковым прибором.
5.81 . Электромагнитные наводки ( Interference noise ) - шум, создаваемый источником, внешним по отношению к вихретоковой системе контроля.
5.82 . Закон подобия ( Law of similarity ) - закон, позволяющий выполнять описание электромагнитных явлений, общих для геометрически подобных изделий.
5.83 . Комплексное сопротивление обмотки ( Loaded coil impedance ) - импеданс измерительной обмотки, сочлененной с проводящим контролируемым изделием.
5.84 . Диаграмма относительного комплексного сопротивления ( Normalized impedance plane diagram ) - геометрическое место точек, представляющих относительное комплексное сопротивление обмотки при изменении одного или более параметров контроля (частоты, электрической проводимости, магнитной проницаемости, геометрических характеристик или коэффициента взаимодействия).
5.85 . Относительное реактивное сопротивление ( Normalized reactance ) - индуктивное сопротивление нагруженной катушки, деленное на индуктивное сопротивление ненагруженной обмотки. Безразмерная величина.
5.86 . Относительное сопротивление ( Normalized resistance ) - разность сопротивлений нагруженной и ненагруженной катушек, деленная на сопротивление ненагруженной обмотки.
5.87 . Фазовый угол сигнала, фаза сигнала ( Phase angle of a signal ) - в комплексной плоскости это угол между вектором, соответствующим сигналу, и вектором, соответствующим опорному направлению. Ориентация опорного направления определяется рабочей процедурой.
5.88 . Опорное направление ( Phase reference ) - направление в комплексной плоскости дисплея, выбранное за начало отсчета при измерении фазы.
5.89 . Импульсные вихревые токи ( Pulsed eddy currents ) - вихревые токи, создаваемые импульсным электромагнитным полем.
5.90 . Результирующее магнитное поле ( Resultant magnetic field ) - магнитное поле, являющееся результатом векторного суммирования первичного и вторичного полей.
5.91 . Огибающая сигналов дефекта ( Signature ) - геометрическое место сигналов конкретной несплошности или дефекта, изображенного на комплексной плоскости.
5.92 . Скин-эффект ( Skin effect ) - концентрация электромагнитных полей и вихревых токов вблизи поверхности контролируемого изделия.
Примечание. Является следствием самоиндукции и зависит от частоты, проводимости и магнитной проницаемости.
5.93 . Стандартная глубина проникновения ( Standard depth of penetration ) - глубина, на которой напряженность электромагнитного поля или плотность индуцированных вихревых токов уменьшается на 37 % от их значения на поверхности.
Для простого случая проводящего полупространства, возбуждаемого электромагнитной волной с плоским фронтом, расчетная формула
,
где δ - стандартная глубина проникновения;
f - частота возбуждения;
s - электрическая проводимость;
µ - магнитная проницаемость;
µ0 - магнитная постоянная.
5.94 . Синхронная демодуляция ( Synchronous demodulation ) - демодуляция сигнала вихретокового преобразователя, выполняемая с эталонным сигналом, синхронным с возбуждением вихретокового преобразователя.
5.95 . Абсолютное измерение ( Absolute measurement ) - измерение отклонения от фиксированной отсчетной точки, определяемой калибровочной процедурой. Эта отсчетная точка может быть генерирована эталонной обмоткой или напряжением, или каким-либо другим эталонным устройством.
5.96 . Абсолютный сигнал ( Absolute signal ) - выходной сигнал системы абсолютного измерения.
5.97 . Сравнительное измерение ( Comparative measurement ) - разность двух идентичных измерений, одно из которых считается эталонным.
5.98 . Сравнительное измерение с внешним эталоном ( Comparative measurement with external reference ) - сравнительное измерение, при котором эталон отделен от контролируемого изделия.
5.99 . Самосравнение ( Comparative measurement with local reference ) - сравнительное измерение, при котором эталон является частью контролируемого изделия.
5.100 . Сигнал сравнения ( Comparative signal ) - выходной сигнал системы сравнения.
5.101 . Дифференциальное измерение ( Differential measurement ) - разность двух измерений, выполненных при неизменном расстоянии между измерительными участками и на том же пути сканирования.
5.102 . Дифференциальный сигнал ( Differential signal ) - выходной сигнал дифференциальной системы измерения.
5.103 . Схема ( Arrangement ) - конструктивные узлы и электрические соединения обмоток преобразователя и радиоэлектронных элементов прибора.
5.104 . Вихретоковый преобразователь с аддитивным магнитным потоком ( Additive magnetic flux probe ) - вихретоковый преобразователь, в котором один поток возбуждения складывается с другим потоком возбуждения в каждом возбуждающем элементе.
5.105 . Коэффициент заполнения обмотки ( Coil fill factor ) - для наружной проходной обмотки возбуждения это отношение площади наружного поперечного сечения контролируемого изделия к площади внутреннего поперечного сечения обмотки. Для внутренней коаксиальной обмотки это отношение площади наружного поперечного сечения обмотки к площади внутреннего поперечного сечения контролируемого изделия.
5.106 . Длина обмотки ( Coil length ) - аксиальная длина обмотки.
5.107 . Расстояние между обмотками ( Coil separation ) - расстояние между ближайшими друг к другу концами двух обмоток.
5.108 . Интервал между обмотками ( Coil spacing ) - среднее расстояние между двумя обмотками. В случае накладных преобразователей это расстояние между осями двух обмоток.
5.109 . Число витков обмотки ( Coil turns ) - количество витков провода в обмотке.
5.110 . Схема для сравнительного измерения ( Comparative arrangement ) - схема, предназначенная для сравнительного измерения с использованием внешнего эталона.
5.111 . Вихретоковый преобразователь для сравнительного измерения ( Comparator probe ) - вихретоковый преобразователь, предназначенный для выполнения сравнительного измерения с использованием внутреннего эталона.
5.112 . Компенсационная обмотка ( Compensation coil ) - вспомогательная катушка для компенсации нежелательного влияния на измерение.
5.113 . Сердечник ( Core ) - физический элемент, на котором крепится обмотка и который может влиять на магнитный поток.
5.114 . Эффективный диаметр обмотки ( Effective coil diameter ) - диаметр теоретической цилиндрической обмотки, создающей тот же электромагнитный эффект, что и цилиндрическая обмотка, выполняющая контроль.
5.115 . Возбуждающее поле, первичное поле ( Excitation field , primary field ) - магнитное поле, создаваемое возбуждающим током.
5.116 . Феррит ( Ferrite ) - ферромагнитный материал, имеющий низкую проводимость и используемый в качестве сердечника или экрана вихретокового преобразователя.
5.117 . Вихретоковый преобразователь с ферромагнитным сердечником ( Ferromagnetic cored probe ) - вихретоковый преобразователь, в котором магнитный поток проходит по ферромагнитному сердечнику и усиливается им.
5.118 . Вихретоковый преобразователь с постоянным магнитом ( Permanent magnet probe ) - вихретоковый преобразователь с одним или несколькими постоянными магнитами, магнитное поле которого необходимо для выполнения измерения.
5.119 . Первичная обмотка, возбуждающий элемент ( Primary coil , excitation element ) - обмотка, которая создает возбуждающий магнитный поток в контролируемом изделии.
5.120 . Матрица вихретоковых преобразователей ( Probe array ) - конструкция, содержащая обмотки, расположенные в форме матрицы.
5.121 . Коэффициент заполнения вихретокового преобразователя ( Probe fill factor ) - для наружного вихретокового преобразователя это отношение площади наружного поперечного сечения контролируемого изделия к площади внутреннего поперечного сечения преобразователя.
Для внутреннего вихретокового преобразователя это отношение площади наружного поперечного сечения преобразователя к площади внутреннего поперечного сечения контролируемого изделия.
5.122 . Эталонный вихретоковый преобразователь ( Reference probe ) - вихретоковый преобразователь, служащий в качестве эталона для сравнительного измерения.
5.123 . Вращающийся вихретоковый преобразователь ( Rotating probe ) - накладной вихретоковый преобразователь, который вращается.
5.124 . Экран ( Screen , shield ) - материал, уменьшающий распространение электромагнитных полей в части или в целом в обмотке или в пространстве, окружающем вихретоковый преобразователь.
5.125 . Вторичная обмотка, измерительный элемент ( Secondary coil , receiving element ) - обмотка и (или) устройство, измеряющее напряженность магнитного поля, через которые проходит результирующее магнитное поле.
5.126 . Вторичное поле ( Secondary field ) - магнитное поле, создаваемое индуцированными вихревыми токами.
5.127 . Экранированный вихретоковый преобразователь ( Shield probe ) - вихретоковый преобразователь с одним или несколькими экранами.
5.128 . Обмотка с ярмом ( Yoked coil ) - обмотка, намотанная на ярмо высокой магнитной проницаемости определенной формы.
5.129 . Зона действия вихретокового преобразователя ( Zone of interaction ) - зона контролируемого изделия, которая влияет на измерение.
5.130 . Изображение на комплексной плоскости вихретокового сигнала ( Complex plane display ) - изображение, полученное при откладывании вихретокового сигнала, демодулированного по фазе, по горизонтальной оси и квадратурно демодулированного вихретокового сигнала - по вертикальной оси.
5.131 . Размагничивающий блок ( Demagnetisation unit ) - устройство, предназначенное для уменьшения остаточной намагниченности контролируемого изделия до и после контроля.
5.132 . Демодулятор ( Demodulator ) - часть вихретокового прибора, которая выполняет демодуляцию.
5.133 . Изображаемая область ( Display area ) - изображаемая часть комплексной плоскости.
5.134 . Система вихретокового контроля ( Eddy current testing system ) - система для контроля и измерения, использующая вихревые токи, содержащая по меньшей мере вихретоковый прибор, вихретоковый преобразователь и соответствующие соединительные кабели.
5.135 . Усилитель мощности возбуждения ( Excitation power amplifier ) - усилитель мощности, обеспечивающий напряжение или ток возбуждения, которые не зависят от импеданса вихретокового преобразователя.
5.136 . Фильтр ( Filter ) - электрическая схема, пропускающая сигналы в определенной полосе частот и ослабляющая сигналы на всех других частотах.
5.137 . Строб ( Gate ) - интервал времени, в течение которого контролируется изменяющийся сигнал.
5.138 . Генераторный блок ( Generator unit ) - часть вихретокового прибора, обеспечивающая возбуждающее напряжение или возбуждающий ток.
5.139 . Интегратор ( Integrator ) - фильтр, обеспечивающий интегрирование сигнала во времени и тем самым подчеркивающий медленные изменения сигнала.
5.140 . Измерительный канал ( Measurement channel ) - цель обработки сигнала, выдающая значение измеряемой величины. На комплексной плоскости изображается векторная информация, формируемая двумя измерительными каналами.
5.141 . Измерительный блок ( Measurement unit ) - часть вихретокового прибора, обрабатывающая сигналы вихретоковых преобразователей.
5.142 . Многоканальный прибор ( Multi channel instrument ) - прибор с несколькими измерительными каналами.
5.143 . Многочастотный прибор ( Multi frequency instrument ) - прибор, функционирующий по многочастотному способу.
5.144 . Многопараметровый прибор ( Multi parameter instrument ) - прибор, который функционирует по многопараметровому способу.
5.145 . Фазовращатель ( Phase shifter ) - часть вихретокового прибора, которая поворачивает изображение комплексной плоскости.
5.146 . Блок поступательно-возвратного перемещения вихретокового преобразователя ( Probe pusher puller unit ) - механическое устройство, обеспечивающее перемещение вихретокового преобразователя в прямом и обратных направлениях для внутреннего контроля труб.
5.147 . Вращающаяся головка ( Rotating head ) - приводной блок, который вращает один или несколько поверхностных вихретоковых преобразователей.
5.148 . Обмотка насыщения ( Saturation coil ) - вспомогательная обмотка, создающая постоянное намагничивающее поле, используемое для уменьшения влияния изменений магнитной проницаемости на участке измерения.
5.149 . Блок насыщения ( Saturation unit ) - устройство, создающее постоянное намагничивающее поле, используемое для уменьшения влияния изменений магнитной проницаемости на участке измерения.
5.150 . Изображение, синхронное со временем ( Time synchronous display ) - изображение, полученное использованием пилообразного сигнала по горизонтальной оси. По вертикальной оси откладывается любая выбранная характеристика демодулированного сигнала вихретокового преобразователя.
5.151 . Способ уменьшения зазора ( Approaching technique ) - способ сортировки материала, основанный на определении положения сигнала, полученного от вихретокового преобразователя при его приближении к контролируемому изделию.
5.152 . Площадь зоны контроля ( Area of coverage ) - характеристика вихретокового преобразователя, которая количественно определяет зону контроля контролируемого изделия.
Примечание. Метод измерения указанной величины определяется процедурой контроля.
5.153 . Способ сбалансированного моста ( Balanced bridge technique ) - способ моста переменного тока, в котором изменения свойств контролируемого материала распознаются по изменению выходного сигнала сбалансированного моста.
5.154 . Динамические вихревые токи ( Dynamic currents ) - дополнительные вихревые токи, наводимые перемещением вихретокового преобразователя и контролируемого изделия относительно друг друга.
5.155 . Динамическое измерение ( Dynamic measurement ) - измерение, выполняемое при перемещении вихретокового преобразователя и контролируемого изделия относительно друг друга.
5.156 . Концевой эффект ( End effect ) - геометрический эффект в проходных вихретоковых преобразователях, создаваемый концом контролируемого изделия.
5.157 . Геометрический эффект ( Geometric effect ) - влияние изменения во взаимном положении вихретокового преобразователя и контролируемого изделия на сигнал вихретокового преобразователя, наблюдаемое в зоне влияния преобразователя.
5.158 . Способ возрастающей магнитной проницаемости ( Incremental permeability technique ) - способ, применяемый только к ферромагнитным материалам и используемый для характери стики свойств материала. Переменное магнитное поле большой амплитуды и низкой частоты накладывается на высокочастотное возбуждающее поле.
5.159 . Эффект введения контролируемого изделия ( Input effect ) - концевой эффект, возникающий при приближении контролируемого изделия к проходному коаксиальному вихретоковому преобразователю.
5.160 . Длина зоны контроля ( Length of coverage ) - характеристика вихретокового преобразователя, которая определяет количественно зону контроля контролируемого изделия в направлении пути сканирования.
Примечание . Метод измерения этой величины определяется процедурой контроля.
5.161 . Рабочая тонка ( Operating point ) - точка на изображении комплексной плоскости, соответствующая номинальным рабочим условиям.
5.162 . Эффект выхода контролируемого изделия ( Output effect ) - концевой эффект, создаваемый при выходе конца контролируемого изделия из коаксиального вихретокового преобразователя.
5.163 . Настройка фазы, регулировка фазы ( Phase setting , phase adjustment ) - использование фазового регулятора для достижения определенных рабочих условий, например для оптимизации величины отношения сигнал/шум.
5.164 . Способ точки возврата ( Point of return technique ) - оценка, основанная на положении точки возврата геометрического места сигналов в абсолютной системе.
5.165 . Способ вращающегося поля ( Rotating field technique ) - способ, при котором вращающееся поле генерируется в контролируемом изделии несколькими возбуждающими элементами, фиксированными в определенном положении.
5.166 . Траектория сканирования ( Scanning path ) - траектория, описываемая вихретоковым преобразователем по поверхности контролируемого изделия.
5.167 . План сканирования ( Scanning plan ) - определение траектории и скорости сканирования, необходимых для достижения требуемого перекрытия контролируемого изделия.
5.168 . Класс сортировки ( Sorting class ) - классификация контролируемого изделия в одном диапазоне или в нескольких диапазонах требуемых характеристик, например твердости, состава материала или размеров.
5.169 . Статическое измерение ( Static measurement ) - измерение, выполняемое вихретоковым преобразователем, неподвижным относительно контролируемого изделия.
5.170 . Эффективная скорость контроля ( Surface speed ) - линейная скорость вихретокового преобразователя относительно контролируемого изделия.
5.171 . Параметры контроля ( Test parameters ) - параметры, которые должны контролироваться для достижения результатов контроля.
5.172 . Относительная скорость изделия и преобразователя ( Throughput speed ) - линейная скорость контролируемого изделия относительно системы вихретокового контроля.
5.173 . Эффект наклона вихретокового преобразователя ( Tilt effect ) - геометрический эффект, создаваемый изменениями угла накладного вихретокового преобразователя по отношению к контролируемому изделию.
5.174 . Ширина зоны контроля ( Width of coverage ) - характеристика вихретокового преобразователя, которая количественно определяет зону контроля контролируемого изделия в направлении, перпендикулярном пути сканирования.
Примечание. Метод измерения этой характеристики определяется процедурой контроля.
5.175 . Дрожание ( Wobble ) - геометрический эффект, создаваемый неконтролируемым относительным движением вихретокового преобразователя и контролируемого изделия, например вибрацией.
5.176 . Амплитудный анализ ( Amplitude analysis ) - оценка амплитуды сигнала.
5.177 . Анализ динамики сигнала ( Analysis of signal dynamics ) - оценка зависимости от времени параметров вихретокового сигнала.
5.178 . Анализ в комплексной плоскости ( Complex plane analysis ) - аналитический метод, который коррелирует изменения амплитуды и фазы демодулированного сигнала с изменениями в электромагнитном взаимодействии и со свойствами контролируемого изделия.
5.179 . Анализ проекций ( Component analysis ) - оценка амплитуды одной составляющей вихретокового сигнала для данного опорного направления.
5.180 . Динамический анализ ( Dynamics analysis ) - анализ зависимости сигналов от времени, полученной при динамическом измерении.
5.181 . Метод эллиптического изображения ( Elliptical display method ) - метод оценки, основанный на интерпретации фигур Лиссажу, полученных при откладывании сигнала, представляющего возбуждающий ток, по горизонтальной оси дисплея, а сигнала вихретокового преобразователя - по вертикальной оси.
5.182 . Способ стробирования ( Gating technique ) - использование одного или более стробов для оценки сигнала.
5.183 . Групповой анализ ( Group analysis ) - статистический метод сортировки материалов по группам с различными физическими свойствами, определяемыми вихретоковым контролем.
5.184 . Гармонический анализ ( Harmonic analysis ) - анализ амплитуды, фазы (или и того, и другого) гармонических составляющих сигнала вихретокового преобразователя.
5.185 . Модуляционный анализ ( Modulation analysis ) - анализ демодулированного вихретокового сигнала.
5.186 . Фазовый анализ ( Phase analysis ) - анализ, при котором сигнал оценивается измерением его фазового угла.
5.187 . Регрессионный анализ ( Regression analysis ) - метод оценки, использующий регрессионный способ по измеренным значениям, например, для сортировки по классам.
5.188 . Секторный анализ ( Sectonal analysis ) - амплитудный анализ, выполняемый в некотором секторе комплексной плоскости.
Специалисты организации Независимая Экспертиза готовы помочь как физическим, так и юридическим лицам в определении различных видов оценки,проведении различных видов экспертиз.
У Вас нерешенные вопросы или же Вы захотите лично пообщаться с нашими специалистами или заказать наши услуги, всю необходимую для этого информацию можно получить в разделе "Контакты".
С нетерпением ждем Вашего звонка и заранее благодарим за оказанное доверие
Независимая Экспертиза правовая база
Волгоград, ул. Иркутская, 7 (остановка ТЮЗ, отдельный вход с торца здания). 400074, г.
Заключение независимой экспертной организации имеет статус официального документа доказательного значения и может быть использовано в суде.
